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          太陽能硅片視覺檢測方案


          檢測內容太陽能電池片表面檢測:
           • 缺陷種類:手印、大小角(尺寸不良)、深刮痕、崩邊、邊緣缺陷、孔洞和污染
           • 最大可檢測156mmx156mm wafer
           • 檢測精度:0.2mm
           • 像素精度55 um @ 工作距離350mm
           • 檢測速度:最大3600 片/小時
           • 硅片暗裂
           • 硅片表面SiN膜一致性檢測
           • 硅片共面度3D檢測

          系統配置:
          ·線陣工業相機、高分辨率工業鏡頭、LED線光源、大功率光源控制器;
          ·工控機:> 3.0G CPU,2048M 內存,160G硬盤,19” LCD顯示器等;
          ·機機械結構部分(包括機臺,精密傳送帶、相機等固定及微調裝置等)和電控箱(運動控制單元、電機、傳感器等);
          ·應用軟件包及運行許可證及WindowsXP 運行環境+SP2。

          線陣太陽能硅片視覺檢測光源選型

          本系統拍攝目標為太陽能電池板表面,要求體現被測物表面手印、大小角(尺寸不良)、深刮痕、崩邊、邊緣缺陷、孔洞和污染等,為更好地表現細節,建議采用波長較短的光源-藍色光源,并采用低角度方式照射,并由于線陣掃描的速度對光源的亮度有比較高的要求,可選配富愛其藍色高亮線陣LED光源,該光源專用于線陣項目,采用高亮LED及特殊光學設計,在均勻性、亮度及聚光性均有非常優異的表現。另外,充分地考慮了散熱方面的要求,配合專用光源控制器,該光源可保證連續點亮3萬個小時。由于太陽能硅片另一常見缺陷如暗裂,尺寸變形等,為提高輪廓的對比度效果,及體現暗裂等缺陷,則需在另一面采用穿透力比較強的紅外線光源作背光用。

          另外,在面陣方式進行太陽能電池片檢測時,由于考慮到太陽能電池片屬于大面識表面反光物體,在光源選型時,通常選用回形背光源作正光,富愛其大功率大面積背光源具有高亮度,低發熱,高均勻性等特點.是面陣太陽能硅片檢測的首選光源,歡迎來電查詢

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