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          濾光片表面質量檢驗方法


           
          光學鍍膜元件的表面質量及內材質量都是以表面缺陷的程度進行定義的,根據美國軍標,通常有三個標準來判定光學件的表面質量。MIL-O-13830是1954年開始執行,并且在1964年完成修訂的;MIL-C-48497是1974年開始執行,并且在1980年完成修訂的;MIL-F-48616開始于1974年。這些標準所定義的表面缺陷:劃痕和點子,如下所述:

          劃痕-長度遠遠超過寬度的表面缺陷。

          點子-長寬大致相等的表面缺陷。

          劃痕及點子的判定是根據缺陷的寬度或直徑進行的,并且在美國軍標中有獨立的條款規定。在最新的軍標中,將劃痕的指標定義為以0.001mm為單位;將點子的指標定義為以0.01mm為單位。在光學元件的設計時,可以使用相關的字母來標定質量等級。下表將作詳細介紹。

          劃痕 點子
          劃痕級別 劃痕寬度  劃痕代碼  點子級別 點子直徑  點子代碼 
          (mm) (mm) (mm) (mm)
          A 0.005 5 A 0.05 5
          B 0.01 10 B 0.1 10
          C 0.02 20 C 0.2 20
          D 0.04 40 D 0.3 30
          E 0.06 60 E 0.4 40
          F 0.08 80 F 0.5 50
          G 0.12 120 G 0.7 70
                H 1 100


          一般光學零件圖紙中,正規的表面質量表述方法是定義劃痕/點子的級別或代碼,并且附加上一個美軍標的序列號。劃痕/點子的級別或代碼將決定光學元件表面可以允許的劃痕/點子的尺寸及密度;而美國軍標的序列號,則定義的是檢驗及評價劃痕/點子的方法和環境。例如:F-F per MIL-F-48616 or 80-50 per MIL-O-13830。 
          美國軍標 MIL-O-13830 
          檢驗方法

          將被檢元件放置在一塊磨砂玻璃的表面,用40瓦的燈泡照明從玻璃下方照明。表面磨砂的不透明部分呈長條狀,必須大于玻璃表面的1/2。這些條狀的不透明部分可以幫助檢驗者觀察光學元件輕微的顏色缺陷,這些缺陷在普通光照下是很難被看到的。

          檢驗使用裸眼,并通過對比美國軍標劃痕/點子的標準,來判定產品是否符合要求。每個表面都要獨立、分別檢驗及判定。


          判定的方法—劃痕

          當找到最大的劃痕后,將元件上劃痕總的數量乘以劃痕的長度,并將結果除以元件的直徑,該數值不得大于1/2。如果找不到最大的劃痕,即將元件上劃痕的總長除以元件的直徑,該數值不得大于1/2。


          判定的方法—點子

          在直徑20mm內,無論點子還是碎片的最大尺寸不得超過標準的規定。

          在直徑20mm內,所有點子的直徑相加不得超過最大可以允許直徑的2倍。氣泡、雜質的檢驗判定方法相同。

           
          美國軍標 MIL-F-48616 
          檢驗方法

          檢測的環境要求是2~15瓦的熒光燈管,從下方或上方(根據檢驗透射元件或反射元件的實際需要)照明;并且有黑色背景。裸眼檢驗。并通過對比美國軍標劃痕/點子的標準,來判定產品是否符合要求。每個表面都要獨立、分別檢驗及判定。

          判定的方法—劃痕

          當找到最大的劃痕后,將元件上劃痕總的數量乘以劃痕的長度,并將結果除以元件的直徑,該數值不得大于1/2。如果找不到最大的劃痕,即將元件上劃痕的總長除以元件的直徑,該數值不得大于1/2。

          判定的方法—點子

          在直徑20mm內,無論點子還是碎片的最大尺寸不得超過標準的規定。

          在直徑20mm內,所有點子的直徑相加不得超過最大可以允許直徑的2倍。氣泡、雜質的檢驗判定方法相同。

          這兩種檢驗方法各有優點。MIL-F-48616可以更加方便的觀察到缺陷,并且有能力觀察到缺陷對成像的影響。但是針對點子的級別判定而言,MIL-O-13830更加快捷,可以直接同標準樣板進行比對,無需另外測量。
           
          FA-VISION是專業光學濾光片供應商,提供中性密度濾光片、遠紅外濾光片、激光濾光片、熒光濾光片等。產品廣泛應用于紅外成像、熒光或多光譜成像、生化分析儀等。

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