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          近紅外成像在太陽能電池機器視覺檢測中的應用


           硅是生產太陽能電池片的主要原材料,但是晶體硅質地非常脆,很容易破裂,而太陽能電池片生產工藝復雜,

          在生產過程及各個工序的互相傳送中,極易產生破裂或隱裂。隨著硅錠切割工藝的優化升級,硅片將越來越薄,

          其對于內部探傷的需求也將更為迫切。

          太陽能生產工藝中,第一道成品就是硅錠。硅錠經線鋸切割后形成太陽能硅片,而由于硅錠本身雜質和氣

          泡等影響,造成產品質量差,并影響設備壽命。通過紅外相機系統對太陽能硅錠進行質量檢測,可以提前

          避免以上狀況的發生,是非常有價值的機器視覺檢測應用。在這個應用中系統價值體現在:


          1) 提升硅錠產品的質量。硅錠中含有雜質、氣泡,會對最終的硅片產品質量產生影響。因為紅外光對硅的穿

          透性比較好,波長為1050 nm的紅外光可以穿透200 μm厚的硅錠,而波長為1300~1500 nm的紅外光則

          可以穿透任意厚度的硅錠。因此我們可以利用紅外光進行探傷,檢測出硅錠中的孔洞和雜質,并通過各種

          工藝預處理,來達到提升硅錠產品質量的目的。

          2) 減少對線鋸的損耗,降低成本。線鋸的價格一般都非常昂貴,在加工中,若硅錠中有孔洞的存在,會使線

          鋸的應力突變,引起線鋸的振動,加劇線鋸的損耗,甚至會造成線鋸的損毀;若硅錠中有雜質,也會使線

          鋸的損耗加大。因此通過引入紅外探傷,我們可以降低線鋸的損耗,進而達到降低成本的目的。

          3) 提升硅片的產品質量。在把硅錠切割為硅片的過程中,若硅錠中有雜質,則切割出來的硅片會產生線痕,

          這樣的硅片是比較容易碎裂的。此外硅錠中的雜質容易附著在切割器械上,若用這樣的切割器械進行加工,

          會造成更多硅片的線痕,嚴重降低產品的質量,而且使生產成本大幅度地提高。


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